利用雷射讓原子力顯微鏡更精確
2014.09.01
利用雷射讓原子力顯微鏡更精確
作者 / 編輯部
537期
澳洲的雷射物理學家在最新的研究中，找到一種特殊的方式使原子力顯微鏡（atomic-force microscope,AFM）的探針能提高二十倍的靈敏度、使AFM得以偵測更微小的作用力。
雷射物理雷射原子力顯微鏡彎曲效應
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