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2014-09-01利用雷射讓原子力顯微鏡更精確
537 期
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8/15 澳洲的雷射物理學家在最新的研究中，找到一種特殊的方式使原子力顯微鏡（atomic-force microscope,AFM）的探針能提高二十倍的靈敏度、使AFM得以偵測更微小的作用力。關鍵在於使用雷射來控制奈米導線探針的溫度，研究人員利用雷射將溫度降到攝氏-265度，讓探針靈敏度大幅提高。
AFM是一種透過探針在物質表面上所受到的作用力，來偵測這些表面微觀特性的高精密儀器。AFM探針非常精細，甚至比人的頭髮細五百倍以上，因此探針非常容易受到震動影響，而偵測到錯誤的數據。研究人員使用鍍金的銀鎵奈米線製備探針，加上透過雷射來制止背景干擾，雷射光會使探針彎曲與震動，但是藉由雷射光毫秒內的快速切換、控制彎曲效應與測量加熱冷卻循環的特性，能使AFM的精確度大幅提升。